i-manip.com

Je me suis trompée, j'ai écrit "c'est plus une aberration qu'une maladresse" là ou je voulais dire "c'est plus une maladresse qu'une aberration" ! Mes excuses.

Pour le reste je persiste : la latitude d'exposition et la sensibilité sont des paramètres intrinsèques à chaque détecteur. Il est vrai qu'il est possible de changer le noircissement et le contraste lors d'un traitement d'image ou lors de l'étape de développement mais cela ne change en rien la latitude d'expo et la sensibilité d'un détecteur donné.

1 à 1
Balle au centre
Fin du match ? Prolongations ?

C'est marrant cette façon de prendre la chose comme un match.

Pedras : je ne sous-estime en aucun cas la formation dispensée dans les cours en DTS tout comme je ne surestime pas les cours dispensés dans les DE. Drôle d'idée que tu as là
Concernant "Ce que tu changes sur ton image (ce dont tu parlais) c'est son noircissement et son contraste en utilisant le principe du fenêtrage tout comme en CT ( = traitement numérique) ! Il se peut cependant que c'est ce qu'il y a dans tes cours, mais c'est une erreur de langage souvent présente sur les terrains de stage !" : la sensibilité correspond au noircissement chez Fuji/Philips, et la LE au constraste (toujours chez les même constructeurs).
Il est d'ailleurs demandé aux étudiants (c'est le cas à chaque fois que des pratiques sont faites chez nous) les valeurs normales d'une bonne exposition par exemple.
Quand je parlais dans mon paragraphe précédent de S et de LE je parlais de traitement d'image ==> je n'ai en aucun cas la prétention de pouvoir diminuer par claquement de doigt la couche luminescente histoire d'avoir une meilleure résolution spatiale (c'est un exemple, hein ).

A propos du post de Madmad :

"tu sembles dépassé et démodé en matière de radioprotection" : merci.

" il ne faut pas déconsidérer ou sous-estimer de manière facile des étudiants (quelle que soit leur année d'étude ou leur voie de formation), on apprend de tout le monde, personne n'a donc la science infuse" : j'ai sous-estimé un étudiant ?

"J'accepte également que l'on me reprenne en cas de bourde, mais ça sert à rien de prendre la "grosse tête" comme de nombreux manips' " tout le monde il est méchant avec toi j'ai l'impression ? Non ? Tu es sur un forum. Si tu n'aimes pas que les forumeurs te citent en y rajoutant quelques remarques, alors ne participe pas.
Si je t'ai cité, c'est que ton premier message était le seul à faire une réelle comparaison.
Il n'y avait que deux choses qui m'ont dérrangées : l'irradiation avec un CEF dont tu n'as pas parlé, et le "plus de mAs plus l'image est jolie".

Pour le coup, l'étudiant MERM crache sur un MERM ... Qui prend la grosse tête ?

Et surtout : un conseil : évite de sortir ce genre de choses à l'examen "plus il y a de mAs, plus l'image est jolie".

" Ce qui me paraît aberrant c'est qu'un étudiant de 3° année, à qui on dispense des cours de radioprotection et des cours de technologie se permette de dire que plus on augmente les mAs plus le cliché est joli en numérique " et la justification c'est " ça va carrément à l'encontre de ce qu'on enseigne dans les IFMEM ". Mais en quoi ?

C'est juste que cette phrase, sans aucune vraie explication de ta part, est vraiment mal passée... Et "si tu n'aimes pas que les forumeurs te citent en y rajoutant quelques remarques, alors ne participe pas " les remarques ils faut les justifier non pas de cette manière là pour quelles ne soient pas mal interprétées, sinon tu peux me citer autant que tu veux ^^, maintenant je ne serais pas sur le forum depuis longtemps si ce n'est pour l'échange d'idées: or là je note aucun contre-argument valable de ta part, si ce n'est pour la dose en CEF. Merci au passage pour le conseil à l'exam, mais je saurais me justifier dans ce cas.

Mais tu le fais exprès ?
La justification est dans le paragraphe que tu viens de citer (celui où je te dis qu'une surexpo/sous expo existe aussi en num).

De part la physique et la technologie du numérique, l'activité radiologique réalisée via ces supports numériques ont induit une réduction de la dose non négligeable. Si le MERM s'amuse à dire que plus on met de mAs plus l'image est jolie, alors amusons nous à faire des rachis lombaire avec la cellule centrale, et 3 points de cellule, histoire d'augmenter les mAs, le temps de pose, et donc l'irradiation.

On fait de la photographie ou de la radiographie ?

Une chose est certaine : notre développeuse doit-être différente des autres (humour humour ) (les clichés sous expo ou surexpo existent bien chez nous) : trop de mAs = s<200 = cliché surexpo = obligation du manip à rebidouiller ce fameux S (signe qu'il y a bien des constantes inadaptées).

Où passes-tu tes pratiques ?

Fin du match ! Je pense que la discussion n'a plus lieu d'être car elle devient contreproductive !


Juste une dernière remarque pour mickomick.
Je comprends ce que tu expliques quand tu dis que les valeurs de niveau et de contraste indiquées après lecture d'un ERLM permet d'estimer l'exposition délivrée. Cependant cela ne me parait pas suffisamment pertinent car tout dépend de la programmation de tes histogrammes de références (ces derniers sont sélectionnés lorsque tu identifies ton ERLM du nom de l'incidence réalisée).

D'autre part ces valeurs sont sans unités et dépendent de chaque constructeur. Cela ne me semble pas très scientifique : même si cela nous aide à nous faire une idée !
De là à les apprendre par coeur pour un exam me semble un peu cavalier. Cela ne permet pas de juger si un candidat comprend ce qu'il fait ou non ! A moins qu'il aie passé son stage dans le service en question.

Si, une question intéressante à poser lors des exams (tu penseras à moi car on me l'a déjà posé en stage) : "Que représente pour vous le S et le LE ?"

Ce qui me semble plus pertinent c'est de connaitre les valeurs (une gamme) de PDS pour chaque incidence et pour un type de détecteur. Et de les comparer par rapport aux NRD (même si ces derniers ne sont pas une référence pertinente pour les capteurs de dernière génération très sensibles : type capteur plan ou ERLM récents). Le PDS et la De sont les 2 seules valeurs actuelles de référence.


En espérant avoir été constructive.

SVP restez productifs pour la suite !

" Mais tu le fais exprès ? La justification est dans le paragraphe que tu viens de citer (celui ou je te dis qu'une sur/sous expo existe aussi en num). De part la physique et la technologie du numérique, l'activité radiologique réalisée via ces supports numériques ont induit une réduction de la dose non négligeable. Si le MERM s'amuse à dire que plus on met de mAs plus l'image est jolie, alors amusons nous à faire des rachis lombaire avec la cellule centrale, et 3 points de cellule, histoire d'augmenter les mAs, le temps de pose, et donc l'irradiation. "

Moi, exprès, nan du tout, je pense juste que c'est un "malentendu"... Si là est ta justification cela prouve que tu t'obstines à dire ou penser ce que je n'ai absolument pas dit, enfin ce n'est pas grave car je vais en rester là, contre toute "contre-productivité". Tu me dis la surexposition existe en numérique, et c'est bien là où j'insiste, c'est le piège à éviter en numérique, à savoir peser la balance entre exposition et pertinence du diagnostic. Après libre à toi de répéter ce que je ne dis pas (augmenter les mAs pour obtenir la plus belle image possible), là où je dis qu'il ne faut pas tomber dans la surexposition (donc radiographie et pas photographie pour être clair).

" Une chose est certaine : notre développeuse doit-être différente des autres (humour humour) (les clichés sous expo ou surexpo existent bien chez nous) : trop de mAs = s<200 = cliché surexpo = obligation du manip à rebidouiller ce fameux S (signe qu'il y a bien des constantes inadaptées). "

En effet, chez certaines développeuses de Philips du moins, le manip' a bien accès à la modification des valeurs de S au moment de la lecture de la plaque, avant que l'exposition lumineuse de forte intensité ait lieu pour vider toute information résiduelle contenue dans la plaque ERLM, sinon après on ne peut plus re-bidouiller, sauf sur le logiciel approprié par la suite (le résultat ne sera plus même).

Pour mickomick,

Non, l'on ne nous donne pas les valeurs de S et de LE en cours. En effet, cela s'explique par le fait que selon la callibration du système de lecture les valeurs diffèrent d'un centre à un autre.
On nous dit de noter les valeurs rencontrées en stage et de les confronter au système de détection (type, marque, modèle).

Il en va de même pour le réglage des mAs où seul un ordre de grandeur nous est proposé pour des ERLM de qualité standard. On insiste surtout pour que l'on prenne conscience en stage des mAs programmés en fonction du détecteur, et par là construire notre propre culture professionnelle de terrain.

Cela est déroutant en première année ou l'on attend des "recettes", mais au bout des 3 ans je trouve cela pas trop mal ! Pourtant j'étais la première à râler à l'époque !
Cela nous incite à être davantage acteur de notre formation et de compléter nos connaissances théoriques strictes d'éléments plus pratiques (ex : LE et S des différents modèles).

Voili voilou.

Je ne pense pas que la valeur de ce S et de cette LE soit si différente que ça d'un centre à un autre et c'est pourquoi à mon avis un constructeur tel que Phil ou Fuji ont créé une zone de "tolérance" autour de la valeur seuil de 2 pour la LE d'expo par exemple.

Tu es de quelle école ?

Tiens, d'ailleurs, MadMad, tu ne m'as pas dit où tu passais tes pratiques ?